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题名:
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VLSI测试方法学和可测性设计 VLSI ce shi fang fa xue he ke ce xing she ji / 雷绍充,邵志标,梁峰著 , |
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ISBN:
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7-121-00379-1 价格： CNY29.80 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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286页 图 25cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2005 |
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内容提要:
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本书主要内容为电路测试、分析的基本概念和理论，数字电路的描述和模拟方法，组合电路和时序电路的测试生成方法，专用可测性设计，扫描和边界扫描理论，各种测试生成电路结构及其生成序列之间的关系，与M序列相关的其他测试生成方法，内建自测试原理，各种数据压缩结构和压缩关系等。 |
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主题词:
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超大规模集成电路 测试技术 |
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主题词:
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超大规模集成电路 测试 |
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中图分类法:
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TN47 版次： 4 |
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主要责任者:
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雷绍充 lei shao chong 著 |
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主要责任者:
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邵志标 shao zhi biao 著 |
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主要责任者:
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梁峰 liang feng 著 |